纳米粒度仪产品描述
工作原理：
粒度分布：动态光散射仪（Dynamic Light Scattering, DLS）
ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）
检测范围：
粒径范围：0.3nm-10.0μm
ZETA电位： +/- 500mV
Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而 来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用 多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测ZETA电位。粒 径检测范围 0.3nm – 10μm，ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了 高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有专利技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀 分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以 使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大 节省检测成本。
纳米粒度仪技术优势
1、PMT高灵敏度检测器；
2、可搭配不同功率光源；
3、双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次；
4、钯电极；
5、精确度高，最接近样品真实值；
6、复合型算法： 高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换 相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换
7、快速检测，可以追溯历史数据；
8、结果数据以多种形式和格式呈现；
9、符合USP,CP等个多药典要求；
10、无需校准；
11、复合型算法：
（1）高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换
12、模块化设计便于维护和升级；
（1）可自动稀释模块专利（选配）；
（2）搭配多角度检测器（选配）；
（3）自动进样系统（选配）；