可控硅反向恢复测试系统
2024-05-08 11:00  点击:125
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可控硅反向恢复测试系统主要完成功率器件在高di/dt下反向恢复特性参数的测试。

4.2主回路参数

序号

项目

指标范围

分辨率

误差范围

备注

1

直流电源

100V~4000V连续

10V

±3%±10V

DC

2

支撑电容

≥5mF


±5%±5uF

C

3

Didt调节电感

0.5uH~1uH~2uH;分3档手动调节


±5%


4

电流采集(I1)

CWT30B



6000A

5

电压采集(v+/v-)

TEKP6015A



20KV

6

过流保护(I2)

CP9600LF




7

负载电感

分档:50uH/100uH/200uH/500uH




8

R/C

IGCT吸收电阻




9

IGCT器件(Q1)

满足电压和电流量程




4.3测试参数

序号

参数

测试范围

精度

备注

1

-di/dt

200 ~5000A/us

±3%


2

VR

0-4000V

±3%


3

IF

200-5000A

±3%


4

IRR

0~5000A

±3%


注: 以上参数能够同时实现并独立可调同时能够测试反向恢复电荷Qrr、Qra,反向恢复电流IRM、反向恢复时间trr、ta,tb,s(软度因子),恢复能量Eoff。
可控硅反向恢复测试系统

4.4自动恒温压力夹具

序号

项目

参数

备注

1

工作方式

自动


2

压力范围

10~130KN分辨率0.1 KN;精度±5%


3

温度控制范围

70~180℃,分辨率0.1℃

高压阳极控温器采用非接触式测温


5、              检测参数

参数

项目

*正向电流

范围:200-5000A,连续可调;

±3%±2A;


*二极管电压

范围:300-4000V,连续可调;

±3%±2V;


反向恢复电流测量范围

范围:200-5000A,连续可调;

±3%±10A


反向恢复电荷测量范围

200-35000μC±3%±10μC


反向恢复时间测量范围

0.01-40μs±3%±0.05μs


反向恢复能量测量范围

0.1-1000J±3%±0.1J


*可选电感

0.2、0.5、1、2、3μH可选


电流变化率

500A/μs-2500A/μs 可调


(安徽科研院所)
可控硅反向恢复测试系统

联系方式
公司:西安智盈电气科技有限公司
状态:离线 发送信件 在线交谈
姓名:张芳(女士)
职位:总经理
电话:15319792496
手机:15319792496
地区:陕西-西安市
地址:西安市西咸新区中兴深蓝科技产业园