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一、应用领域：大面积 3D 光学测量系统
- 先进制造业
- 考古学与古生物学
- 消费类电子产品
- 医疗设备
- 模塑
- 光学
- 钟表业
二、产品优势
1. 亚微米高度可重复性，可扩展整个区域内
2. 无需 Z 轴扫描即可测量最高 40mm 的单次测量高度
3. 具有极低场失真的双侧远心镜头，提供精确的测量
4. 可追溯性：采用ISO 标准
每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。
5. 与 3D CAD 模型的形状偏差：提供几何差异和公差测量
6. 表面纹理测量仪器的校准
我们的所有系统精心制造，提供准确、可追溯的测量。系统按照符合ISO 25178第 7 部分关于下列参数的指南的可追溯标准进行校准：Z 放大系数、XY 横向尺寸、平面度误差以及偏心度。