品牌:625
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日本日置 HIOKI IM3523 LCR测试仪
日本日置 HIOKI IM3523 LCR测试仪 产品特点
应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
1、基本精度±0.05％，测量范围广泛(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)2、在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。
3、内置比较器和BIN功能
4、2毫秒的快速测试时间
日本日置 HIOKI IM3523 LCR测试仪 主要技术参数
| 测量模式 | LCR,连续测试 |
| 测量参数 | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
| 测量量程 | 100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义) |
| 可显示量程 |
Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [单位]* ～9.99999G [单位])(*为高分辩率时的显示位数）
只有 Z和Y显示真有效值
θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999)
Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)
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| 基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
| 测量频率 | 40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz) |
| 测量信号电平 |
正常模式
V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms
CC模式: 10μA～50mArms,10μArms
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| 输出阻抗 | 正常模式：100Ω |
| 显示 | 单色LCD |
| 测量时间 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
| 功能 | 比较器，分类测量(BIN功能)，节点负载/补偿，记忆功能 |
| 接口 |
EXT I/O(处理器)，USB通信(高速)
选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一
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| 电源 | 100～240V AC，50/60Hz，大50VA |
| 尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
| 附件 | 电源线×1，操作手册×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1 |