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X荧光镀层测厚仪是由江苏天瑞仪器股份有限公司研发、生产并销售的X荧光镀层测厚仪。X荧光镀层测厚仪采用jinkoujiao高分辨率的FAST SDD探测器，高da140ev分辨率，能准确地解析每个元素的特征信号，针对复杂底材以及多层复杂镀层，youshijuda。jinkou的高功率大高压单元搭配jinkou大功率X光管，能很好的保障信号输出与激发的稳定性，同时，故障率也jida的降低。
gao准确度自动化的X轴，Y轴以及Z轴的三维联动，更准确快速地完成对微小异型（如弧形、拱形、螺纹、球面等）测试点的定位。
X荧光镀层测厚仪设计特点
上照式设计，可适应geng多异型微小样品的测试。
quan新的光路，geng短的光程，相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。
可变焦gaojing摄像头，搭配距离补正系统，不仅可适应微小产品，同时也兼顾了台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。
可编程多点测试，能自动完成对多个样品多个点的测试，较大提高测样效率。
自带数据校对系统，让您永远不再为数据突然变化而担心。
X荧光镀层测厚仪检测实例
可针对单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等进行kuaisujingzhun测试。
X荧光镀层测厚仪应用行业
电镀行业 电子通讯 航天新能源 五金卫浴 电器设备 汽车制造 磁性材料 贵金属电镀 高校及科研院所等